公開日:2009-11-13

展示会

第13回 アジア・太平洋非破壊試験会議(APCNDT2009)に出展しました

展示会

公開日:2009-11-13

アレイ株式会社は、パシフィコ横浜で開催された「第13回アジア・太平洋非破壊試験会議」(通称”APCNDT2009″、英語名”The 13th Asia-Pacific Conference on Non-Destructive Testing”)の機器展示に参加いたしました。
既に多くのユーザーにご利用いただいている高性能フィルムデジタイザー2905HDほか、医用画像領域で培った技術をベースに非破壊検査領域向けのCR機として開発されたCrescendoを展示し、ご好評いただきました。ありがとうございました。

展示期間:2009年11月9日(月)– 12日(木)
会議開催期間は、11月8日(日)– 13日(金)

会場:パシフィコ横浜 会議センター

主催:社団法人日本非破壊検査協会(JSNDI)

展示内容

展示製品
– 高性能レーザーフィルムデジタイザー Array 2905HD
– NDT用CRシステム Array Crescendo
– NDT用Viewingシステム Array AOC NDT

場所
アレイブース

会場の様子

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